Catégorie
Ingénierie de fiabilité
Publications associées (31)
Katrin Beyer, Radhakrishna Achanta, Bryan German Pantoja Rosero
Anastasios Vassilopoulos, Dharun Vadugappatty Srinivasan
Dimitrios Kyritsis, Jinzhi Lu, Xiaochen Zheng, Jinwei Chen
Aurelio Muttoni, Miguel Fernández Ruiz, Qianhui Yu
Katrin Beyer, Francesco Vanin, Igor Tomic