Hannes BleulerOriginaire de Zollikon (ZH), Hannes Bleuler est né en 1954 au Maroc où il passa son enfance. Après la maturité latine a Zürich, il entre au Département d'électricité à l'ETHZ. Il obtient son diplôme en automatique, en 1978, et entre en fonction comme assistant à l'Institut de mécanique de la même école.
Il y participe à l'établissement du groupe de mécatronique et obtient son doctorat dans le domaine des paliers magnétiques actifs, activité qui mène à la fondation d'une compagnie avec des collègues et à un premier séjour de deux ans chez Hitachi au Japon.
De 1991 à 1995, il est d'abord Toshiba Professor of Intelligent Mechatronics à l'institut des sciences industrielles de l'Université de Tokyo et ensuite professeur associé régulier au département de microtechnique à cette même université.
Il y travaille en microtechnique (instrumentation) et robotique. A l'EPFL, ses activités se concentrent sur la robotique biomédicale et l'interface homme-machine (interfaces haptiques) et l'entraînement et la simulation de chirurgie. Il est directeur de la section microtechnique 2008-2009. Il anime les relations et les échanges entre l'EPFL et le Japon sur tous les niveaux et donne un cours (2010) sur l'histoire des sciences au Japon dans le cadre du Collège des Humanités.
Marco Cantoni1982-1988, Diploma course in Experimental Physics (certificate, 28.10.88)ETHZ Faculty IX MATHEMATICS and PHYSICS, Diploma Thesis: "Abweichungen von der ikosaedrischen Symmetrie in Al-Cu-Li Quasikristallen", Advisor: Prof. H.-U. Nissen 1989-1993, Ph.D. in Experimental Physics (certificate, 23.8.94) ETHZ Physics Department, Laboratory of Solid State Physics, Ph. D. Thesis No. 10421, Title: "Elektronenmikroskopische Untersuchung der Realkristallstruktur epitaktischer Schichten von Supraleitern des Typs SEBa2Cu3O7-x auf (100)-SrTiO3" Advisors: Prof. H.R. Ott, Prof. H. U. Nissen. 1994-1996,ETH Zürich,Material Science Department, Non-Metallic Materials, Prof. L. Gauckler: Microstructure characterisation of high-tech ceramic materials by means of SEM, TEM and atomic force microscopy: superconductor thick films (Bi-2212 on Ag) and solid oxide fuel cells (ZrO2, CeO2). 1996-1998, National Institute for Research in Inorganic Materials NIRIM, Japan Group for Special Research, Prof. S. Horiuchi: TEM of Bi-2223/Ag Tapes, Application of Imaging Plates (IP) in High Voltage TEM, Cryo-Lorentz-TEM of Superconducting Materials (Observation of Flux-Lines) 1998-2000, Ecole polytechnique fédéral de Lausanne, EPFL-CIME Centre interdépartemental de microscopie électronique CIME, Prof. P.A. Buffat: Projet 125, PPO II (programme prioritaire optique): Characterization of materials and devices for optic and optoelectronic applications by electron microscopy. 2001-2003, Ecole polytechnique fédéral de Lausanne, EPFL STI IMX LCCeramics Laboratory, Prof. Nava Setter Characterisation of ferroelectric materials, transmission electron microscopy of relaxor ferroelectric materials 2004, University of Geneva, Physics Department, Condensed matter Physics Group of Prof. R. Flükiger, TEM of Multifilament Nb3Sn superconducting wires, in collaboration with EPFL-CIME Since 1.11.04, EPFL-SB-CIME