Introduit des mesures SCOAP pour l'analyse de testabilité dans les systèmes VLSI, couvrant la contrôlabilité, l'observabilité et la prédiction de longueur de vecteur de test.
Couvre les méthodes d'analyse CEM, la prévention des interférences, la réduction des émissions, les normes et l'interaction électromagnétique entre les sources et les systèmes.
Explore les lois de Kirchhoff dans les circuits continus et les connexions série/élément parallèle.
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