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Couvre les défauts liés et non liés dans les systèmes VLSI, les algorithmes de test de mars, les chemins critiques et les tests de défaut de retard de chemin.
Explore la stabilité transitoire dans les systèmes d'alimentation, en mettant l'accent sur les paramètres et les méthodes critiques pour améliorer la stabilité du système.
Explore la fiabilité dans l'automatisation industrielle, couvrant la fiabilité, la sécurité, les caractéristiques des pannes et des exemples de sources de défaillance dans diverses industries.
