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Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.
Couvre les bases de la diffraction électronique, de la théorie de la diffraction, de la formation d'images et des techniques de diffraction des rayons X.
Couvre la correction des aberrations optiques majeures en microscopie et la conception d'objectifs couramment utilisés comme les achromates et les apochromates.
