Une perturbation par une particule isolée (PPI) (en anglais : Single event upset) est un changement d'état provoqué par une seule particule ionisante (ions, électrons, photons ...) frappant un nœud sensible dans un dispositif microélectronique, comme dans un microprocesseur, une mémoire à semi-conducteur, ou transistors de puissance. Le changement d'état est le résultat de la charge libre créée par ionisation dans ou à proximité d'un nœud important d'un élément logique (par exemple dans un "bit" de mémoire). L'erreur de la donnée de sortie ou du fonctionnement de l'appareil causée par cette impact est appelée perturbation par une particule isolée ou erreur logicielle.
Une perturbation par une particule isolée en elle-même n'est pas considérée comme endommageant de façon permanente la fonctionnalité du transistor ou des circuits contrairement au cas du déclenchement parasite isolé, d’une rupture de grille isolée ou d’un claquage isolé. Ce sont tous des exemples d'une classe générale d'effets de rayonnement dans les appareils électroniques appelés effets à événement unique (EEU).
vignette|droite|Une perturbation par une particule isolée se produisit le dans les calculateurs de vol de cet Airbus A330 lors du vol 72 Qantas. Il est soupçonné qu’une PPI provoqua un déséquilibre de l'avion qui provoqua presque son écrasement après que les ordinateurs aient subi plusieurs dysfonctionnements.
Des perturbations par une particule isolée furent décrites pour la première fois lors d'essais nucléaires en surface, de 1954 à 1957, lorsque de nombreuses anomalies furent observées dans les équipements de surveillance électronique. D'autres problèmes furent observés dans de l'électronique spatiale au cours des années 1960, bien qu'il ait été difficile de séparer les défaillances de logiciels des autres formes d'interférences. En 1972, un satellite Hughes connut une PPI lorsque la communication avec le satellite fut perdue pendant 96 secondes, puis retrouvée. Les scientifiques, les Dr Edward C.
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2024
In electronics and computing, a soft error is a type of error where a signal or datum is wrong. Errors may be caused by a defect, usually understood either to be a mistake in design or construction, or a broken component. A soft error is also a signal or datum which is wrong, but is not assumed to imply such a mistake or breakage. After observing a soft error, there is no implication that the system is any less reliable than before. One cause of soft errors is single event upsets from cosmic rays.
Le durcissement des composants électroniques contre les rayonnements ionisants désigne un mode de conception, de réalisation et de test des systèmes et composants électroniques pour les rendre résistants aux dysfonctionnements et dégradations causés par des rayonnements électromagnétiques et les particules subatomiques énergétiques rencontrés lors des vols spatiaux ou en haute altitude, ainsi que dans l'environnement des réacteurs nucléaires, voire lors d'opérations militaires.