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Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Couvre l'analyse de modèles de diffraction de surface sélectionnés pour identifier les structures cristallines et calculer les paramètres de la cellule unitaire.
Couvre les principes fondamentaux de la diffraction électronique et ses applications dans la compréhension des structures cristallines et de la symétrie, y compris les vecteurs de réseau, les plans de réseau et les techniques d'imagerie en champ sombre.
Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Couvre des exercices sur la diffraction électronique pour identifier les structures cristallines et analyser les modèles de diffraction avec précision.
Explore la diffusion dynamique dans la diffraction électronique, en discutant des défis dans l'interprétation des modèles de diffraction et des applications dans l'imagerie des défauts cristallins et la discrimination de phase.