Diffraction de faisceaux d'électrons convergents

Cette séance de cours couvre les principes de la diffraction électronique convergente (CBED), en se concentrant sur l'utilisation d'un petit éclairage convergent pour sélectionner une région d'échantillon beaucoup plus petite, fournissant des informations détaillées sur l'épaisseur, l'orientation et la structure 3D. L'instructeur explique les faisceaux incidents élémentaires, l'état des 2 faisceaux et l'alignement des spécimens en utilisant CBED comme une «feuille de route» cristalline. On discute des effets de l'épaisseur sur l'état des deux faisceaux de la DCEB, y compris la mesure de l'épaisseur de l'échantillon à l'aide de franges de diffusion dynamique. Des ressources pour une étude plus approfondie en microscopie électronique à transmission et des simulations de diffraction électronique sont également fournies.