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Couvre le développement historique et les composantes clés de la microscopie électronique de transmission, y compris le pistolet à électrons, les lentilles, les ouvertures et les porte-échantillons.
Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Couvre les techniques de microscopie électronique, les composants et les applications, y compris le développement historique, la correction des aberrations de la lentille et l'interaction des électrons avec la matière.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les concepts avancés dans les accélérateurs de particules, y compris les aimants, les nouvelles techniques, l'instrumentation, l'optimisation, le diagnostic, les mesures de sécurité, les anneaux de stockage et les moniteurs de lumière synchrotron.
Couvre les principes, les applications et les composants de la microscopie électronique à transmission (TEM), y compris les modes d'imagerie et les techniques avancées.
Introduit les bases de la microscopie électronique, couvrant les composants, les interactions, les modes d'imagerie et les techniques de nanofabrication.
Couvre les défis actuels en physique des accélérateurs, les principaux enjeux, la recherche sur les applications, la modélisation et les séance de courss.
