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Cours

MSE-609: 21Intro Scanning electron microscopy techniques

Résumé

Modern Scanning Electron Microscopes, when combined with Focused Ion Beams (Dual beam FIB-SEM), provide a larger number of multimodal imaging and analysis/characterisation modes at the nano- and micron-scales. The aim of the course is to present the extended analytical possibilities of such device.

Source officielle
Page Moodle
http://go.epfl.ch/MSE-609
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