Cours

MSE-675: Introduction to SEM and FIB microanalysis

Résumé

Modern Scanning Electron Microscopes, when combined with focused ion beams (Dual beam FIBs), provide a larger number of multi-modal imaging and different analytical methods. The course format consists of introductory lectures, lectures on advanced techniques and practical work.

Séances de cours

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/introduction-to-sem-and-fib-microanalysis-MSE-675

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-675

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