MSE-704: 3D Electron Microscopy and FIB-Nanotomography

Résumé

The principles of 3D surface (SEM) reconstruction and its limitations will be explained. 3D volume reconstruction and tomography methods by electron microscopy (SEM/FIB and TEM) will be explained and compared with x-ray tomography.

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/3d-electron-microscopy-and-fib-nanotomography-MSE-704

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-704

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Proximité ontologique

Industrial and production engineering

Manufacturing engineering: Electron-beam technology

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