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Explore les techniques de préparation d'échantillons pour la TEM, telles que la méthode du coin clivé et l'ultramicrotomie, en soulignant leur importance dans l'obtention d'échantillons de haute qualité.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Explore les techniques de microscopie 3D et de tomographie, y compris la tomographie par sonde atomique et la microscopie par émission sur le terrain, en mettant l'accent sur les principes et les applications de la tomographie électronique.
Couvre l'évaluation de la qualité des couches de sondes à l'aide du miroir résonnant, de la résonance de Plasmon de surface et de la microscopie électronique à balayage.
Explore la microscopie électronique à transmission pour l'analyse de dislocation, y compris la reconstruction 3D, la quantification chimique et l'analyse spectrale.
