Microscopie électronique à balayage

Cette séance de cours porte sur les principes et les applications de la microscopie électronique à balayage (SEM), y compris le balayage par faisceau d'électrons, les contrastes de signaux, les facteurs de résolution et les volumes d'interaction. Il explique le rôle des électrons secondaires, des électrons rétrodispersés et de divers signaux dans la formation de l'image. L'instructeur discute des effets de l'accélération de la tension, des effets de bord et de la charge de l'échantillon sur l'imagerie SEM. De plus, il explore des techniques pour améliorer la résolution, réduire les artefacts et améliorer le contraste des images SEM. La séance de cours se penche également sur les défis de l'accumulation de charge sur les échantillons isolants et sur les stratégies d'atténuation de ces effets.