Cette séance de cours porte sur les principes de la caractérisation de la microstructure par la microscopie électronique à balayage (SEM), expliquant comment fonctionne la SEM, les interactions entre les électrons et la matière, et la génération d'électrons rétrodispersés, d'électrons secondaires et de rayons X caractéristiques. Il traite également de l'étude morphologique des matières premières, de l'étude des échantillons de section polie, du réglage d'une bonne image au microscope électronique et de la microstructure des échantillons hydratés. De plus, il se penche sur l'analyse EDX, la composition C(-A)-S-H et la cartographie EDX pour la distribution de phase et la caractérisation des dommages dans les matériaux cimentaires.