Séance de cours
Microscopie in situ et questions et réponses TEM
Description
Cette séance de cours couvre les applications de microscopie électronique in situ, y compris la traction dans le SEM, le TEM environnemental et l'analyse post-chauffante du TEM. Les sujets abordés comprennent l'observation d'échantillons en temps réel, les expériences de traction et les effets environnementaux sur les matériaux. Des techniques telles que XRD et EDS sont également discutées.
Source officielle
À propos de ce résultat
Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.