Séance de cours
Évolution des cellules mémoire
Description
Cette séance de cours traite de l'évolution historique des cellules mémoire par puce, suivant la loi de Moore, et l'importance croissante de la mémoire dans les marchés des semi-conducteurs. Il couvre l'architecture de la SRAM et de la DRAM, les techniques de test de mémoire, les modèles de défaut tels que SAF, TF, DRF, CF et NPSF, et les concepts de tests de mars. L'instructeur explique les tests GALPAT et marche 1/0, les défauts liés et le masquage dans les tests de mémoire.
Source officielle
À propos de ce résultat
Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.