Explore l'analyse qualitative des patrons de diffraction des rayons X pour les matériaux cimentaires, en se concentrant sur l'identification des phases cristallines basées sur les patrons de pic caractéristiques.
Explore les applications de la focalisation micron et submicron, de la cristallographie et des reconstructions tomographiques dans les lignes de faisceaux, ainsi que la nécessité d'optique secondaire et de différents types de lentilles.
