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Couvre l'analyse de modèles de diffraction de surface sélectionnés pour identifier les structures cristallines et calculer les paramètres de la cellule unitaire.
Introduit la diffusion dynamique dans TEM, couvrant la diffusion élastique unique et multiple, la diffraction à 2 faisceaux, la théorie des ondes Bloch et l'intensité de diffusion.
Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Explore la liaison chimique dans les solides, la structure de la bande et les techniques de diffusion de surface pour les mesures des paramètres du réseau et l'analyse de l'orientation des cristaux.
