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Cette séance de cours couvre les principes et les applications de la microscopie électronique par transmission (TEM), y compris l'imagerie TEM, la diffraction, la haute résolution TEM, la numérisation TEM (STEM) et l'analyse des rayons X dispersifs d'énergie (EDX). Il explore l'interaction des électrons avec la matière, la diffraction des électrons, la formation d'images, les mécanismes de contraste et la correction de l'aberration Cs pour HR-TEM. La séance de cours se penche également sur la spectroscopie de perte d'énergie électronique (EELS), les techniques TEM in situ et la tomographie électronique pour les reconstructions 3D. Divers exemples sont fournis, tels que l'imagerie de contraste de diffraction, les franges de Fresnel et la cartographie STEM-EDX. Les avantages et les inconvénients de la TEM in situ, y compris la contrainte, la déformation et la manipulation mécanique, sont discutés, ainsi que l'étude des processus d'irradiation, de fusion et de solidification.