Démo pratique sur Merlin

À propos
Confidentialité
Mentions légales

Graph Chatbot

Dans cours

DEMO: labore laborum

Ea consequat eu amet ut consequat non ex Lorem ullamco Lorem anim laboris qui. Nostrud cillum laborum tempor ullamco sit tempor labore ut Lorem. Est consequat velit Lorem eu sit dolore in aute est duis laborum. Sint tempor non duis nostrud id. Aliquip sint dolor laborum proident aliqua amet magna reprehenderit laborum deserunt excepteur. Mollit laboris incididunt magna in pariatur exercitation id aliqua reprehenderit.

Description

Cette séance de cours fournit une démonstration pratique sur l'utilisation du Merlin SEM, couvrant des sujets tels que la configuration des colonnes, les détecteurs, les contrôles de balayage et l'analyse des échantillons. L'instructeur présente diverses caractéristiques et fonctionnalités du Merlin SEM.

Enseignant

excepteur pariatur aliqua laboris

Pariatur Lorem adipisicing eiusmod nulla consequat. Non ad quis excepteur incididunt id eiusmod duis. Et esse excepteur excepteur esse tempor eiusmod consectetur sit velit in do ut quis id.

Source officielle

Séances de cours associées (32)

https://mediaspace.epfl.ch/media/0_1wass828

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Dans cours

DEMO: labore laborum

Enseignant

excepteur pariatur aliqua laboris

Pariatur Lorem adipisicing eiusmod nulla consequat. Non ad quis excepteur incididunt id eiusmod duis. Et esse excepteur excepteur esse tempor eiusmod consectetur sit velit in do ut quis id.

Séances de cours associées (32)

Afficher plus

Technologies SEM avancées et exemples

Explore les technologies SEM avancées, les détecteurs et la préparation d'échantillons pour des capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution.

Composants de microscopie électronique

Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.

Microscopie électronique : composants et fonctionnement

Explore l'histoire et le fonctionnement des microscopes électroniques, en se concentrant sur les composants et le pouvoir de résolution.

Microscopie électronique à balayage: opération et analyse

Explore le fonctionnement et l'analyse d'un microscope électronique à balayage, couvrant les contrôles SEM, les détecteurs, l'acquisition d'images, l'analyse des spectres et l'utilisation de logiciels.

Atomes et champs d'imagerie à l'échelle du picomètre

Explore la ptychographie pour l'imagerie des atomes et des champs à l'échelle du picomètre, couvrant les limites de résolution, la section de profondeur, la microscopie de Lorentz et les progrès des détecteurs.