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Explore les principes et les applications de la microscopie confocale, en mettant l'accent sur l'élimination de la fluorescence hors foyer pour des images supérieures.
Présente des expériences de métrologie pratiques, couvrant des sujets tels que la métrologie quantique, les expériences à photons uniques et l'AFM pour les mesures nanométriques.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Explore les forces, les pointes et les sondes utilisées dans la microscopie à sonde à balayage, en se concentrant sur les principes AFM, les limites de résolution des pointes et la fabrication de sondes en porte-à-faux.
Explore les principes, les applications et l'importance de la microscopie de la Force atomique dans la recherche scientifique, y compris les études de structure biologique.
Explore les techniques optiques pour l'imagerie cérébrale, y compris les méthodes de nettoyage des tissus et la microscopie avancée, pour analyser l'architecture et la fonctionnalité de grande zone.
Explore la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'imagerie de divers échantillons sans préparation, couvrant le balayage de faisceau d'électrons, la manipulation de pression, la diffusion d'électrons, l'analyse de rayons X et les transitions de phase.