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Couvre les bases de la microscopie par sonde à balayage, en se concentrant sur la STM et l'AFM, en expliquant les principes, les techniques d'imagerie et les méthodes de spectroscopie.
Explore les techniques de microscopie électronique pour la caractérisation morphologique des polymères, couvrant les sources de contraste, les dommages causés par le faisceau et les stratégies pour éviter les dommages.
Couvre les approches fondamentales de caractérisation des matériaux solides, en se concentrant sur l'analyse élémentaire, l'analyse thermique, la microscopie et les spectroscopies à base de neutrons.
Explore les techniques de microscopie optique, les mesures de dimension, le profilage de surface, la caractérisation électrique du MEMS et les techniques de microscopie avancées.
Explore le fonctionnement et l'analyse d'un microscope électronique à balayage, couvrant les contrôles SEM, les détecteurs, l'acquisition d'images, l'analyse des spectres et l'utilisation de logiciels.
