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Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, couvrant l'imagerie, le fraisage, la préparation d'échantillons TEM, les structures nanofabriquées et la microscopie 3D.
Explore les bases et les applications de la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) dans le SEM, en couvrant des techniques telles que l'acquisition et l'analyse de motifs.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Explore les principes et les applications de la tomographie, couvrant la tomographie par rayons X, la tomographie électronique et les techniques avancées.
Explore la reconstruction volumique 3D à l'aide de la microscopie FIB / SEM, de la reconnaissance des particules, de la détection des bords, de la séparation des bassins versants et de l'analyse quantitative de la microstructure.
