Microscopie à force atomique : applications de résolution et de SPR

Cette séance de cours couvre le calcul de la résolution maximale en microscopie à force atomique (AFM) lors de l'utilisation de pointes hémisphériques de différents rayons et angles d'inclinaison. Il traite également de l'estimation de l'épaisseur d'une tranche de métal dans les expériences de résonance plasmonique de surface (SPR) pour diminuer l'intensité des ondes évanescentes. En outre, il présente une expérience SPR pratique pour la détection d'antigènes, y compris la fonctionnalisation du capteur, les variations de flux et l'interprétation des données.