Imagerie TEM haute résolution : contraste de phase et simulations

Cette séance de cours fournit une exploration en profondeur de la microscopie électronique à transmission à haute résolution (HRTEM), en se concentrant sur les techniques d'imagerie de contraste de phase. L'instructeur commence par expliquer les principes fondamentaux de HRTEM, en soulignant que les images produites sont des modèles d'interférence résultant de l'interaction de plusieurs faisceaux d'électrons avec l'échantillon. La discussion comprend l'importance des franges de réseau et comment ils se rapportent aux structures atomiques, mettant en évidence les complexités introduites par les aberrations de lentille et l'épaisseur de l'échantillon. La séance de cours couvre également l'importance des simulations dans l'interprétation des images HRTEM, en particulier à travers l'approximation des objets en phase faible et les calculs multi-tranches. Divers exemples sont présentés, y compris l'imagerie des nanofils d'arséniure de gallium et des couches de dioxyde de titane, illustrant comment la défocalisation et l'épaisseur affectent le contraste d'image. L'instructeur met l'accent sur les progrès apportés par la correction des aberrations dans les microscopes modernes, qui améliorent la résolution et permettent l'imagerie en temps réel des mouvements atomiques. La session se termine par une discussion sur l’avenir de l’imagerie HRTEM, y compris l’intégration potentielle de l’IA dans l’analyse et l’interprétation d’images.