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Cette séance de cours couvre les modes d'imagerie en microscopie électronique à transmission (TEM), y compris les caractéristiques des sources d'électrons, la manipulation des échantillons, les systèmes d'objectifs, les détecteurs et les configurations de caméras. Il explique les interactions électron-matière, les modèles de diffraction électronique et les principes de formation d'images, de contraste et de diffraction dans le TEM. L'accent est mis sur le contraste d'épaisseur de masse, l'imagerie en champ lumineux et en champ sombre, le contraste de phase et la TEM haute résolution. La séance de cours explore également la diffraction électronique de zone sélectionnée, l'imagerie de contraste de diffraction et l'utilisation des franges de Fresnel pour la correction de l'astigmatisme.