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Couvre la théorie de la diffraction des électrons, la loi de Bragg, le réseau réciproque, la sphère d'Ewald et l'imagerie en champ sombre à faisceau faible.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
Explore la microscopie électronique à transmission pour l'analyse de dislocation, y compris la reconstruction 3D, la quantification chimique et l'analyse spectrale.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.
Explore la diffusion de faisceaux multiples dans la diffraction des électrons, en se concentrant sur les modèles de diffraction de l'axe de zone et les approches théoriques.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
Explore les défis et les solutions pour gérer la dose d'électrons en microscopie, en soulignant l'importance d'un suivi et d'une analyse précis des doses.
Déplacez-vous dans l'effet de diffusion dynamique des franges d'épaisseur dans les images TEM, couvrant les équations, les diagrammes d'intensité et l'imagerie par faisceau faible.
Explore les principes de la microscopie électronique à haute résolution, y compris le transfert de contraste, la formation d'images et les correcteurs Cs.
