STEM: Microscopie électronique à transmission par balayage

Cette séance de cours couvre les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), y compris les modèles de diffraction, les détecteurs et les mécanismes de contraste. Il explique l'utilisation de STEM dans les échantillons d'imagerie avec une résolution et un contraste élevés, soulignant l'importance des angles de convergence et de collecte. La séance de cours explore également les effets de la défocalisation, la longueur de la caméra et le positionnement du faisceau dans STEM. En outre, il explore les STEM combinés à la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) pour la cartographie élémentaire et l'analyse quantitative. La présentation présente les applications des STEM dans divers domaines, tels que la science des matériaux et la nanotechnologie, en soulignant ses avantages et ses limites.