Explique la loi de Bragg dans Transmission Electron Microscopie, en se concentrant sur la relation entre la longueur d'onde, l'espacement du réseau cristallin et l'angle de diffraction.
Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Explore la symétrie cristalline, les systèmes, les réseaux et les groupes d'espace, en mettant l'accent sur les structures à l'état solide et les arrangements serrés.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Explore le réseau réciproque dans les systèmes 2D, la diffraction du réseau et des structures atomiques, mettant l'accent sur la dispersion et l'interférence constructive.
Couvre les concepts de cristallographie, y compris les cellules véganicides, les réseaux réciproques et les zones Brillouin, essentielles pour comprendre le comportement des électrons dans les structures cristallines.
