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Fournit une vue d'ensemble de la technologie derrière les portes logiques, couvrant les familles TTL et CMOS et abordant les dangers statiques et dynamiques, les horloges fermées et le débouncing des commutateurs.
Explore l'impact des variations de PVT, les incertitudes dans la conception des circuits intégrés, les paradigmes de conception dans le pire des cas et l'importance des simulations Monte-Carlo.
Explore le flux de conception RTL, l'intégration au niveau de la puce, les cellules standard et l'analyse de synchronisation statique dans la conception VLSI.
Couvre les défauts liés et non liés dans les systèmes VLSI, les algorithmes de test de mars, les chemins critiques et les tests de défaut de retard de chemin.
