Nanoscale AFM: Microscopie et Techniques

Cette séance de cours présente les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique. En commençant par la nécessité d'une microscopie nanométrique, l'instructeur couvre l'échelle des objets naturels et artificiels, la limite de diffraction et la résolution réalisable en microscopie. La séance de cours s'inscrit dans les principes de travail de l'AFM, y compris les modes d'imagerie tels que le contact, l'écoute et les modes sans contact. Il explique les défis à relever pour mesurer les petits objets, l'importance des mécanismes de rétroaction et les diverses forces impliquées dans les interactions entre les bouts et les échantillons. De plus, il explore les modes dynamiques, les courbes de force et la fabrication de cantilevers. La séance de cours se termine par une discussion sur le traitement d'images AFM, les artefacts et les conseils pour obtenir des résultats exacts.