Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.
Discute des interactions onde-matière, en se concentrant sur les phénomènes de diffraction et de diffusion, y compris les principes de réflexion, de réfraction et la signification des interactions rayons X.
Explore la diffraction de Fresnel, la diffraction de Fraunhofer, le principe de Babinet et la résolution optique du microscope, ainsi que la microscopie en champ proche et l'imagerie SNOM/NSOM.
Explore la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les observations en champ proche et lointain, la mise au point des lentilles et la diffraction des rayons X par les cristaux.
Explore les phénomènes de diffraction, les interférences et les limitations de résolution dans les processus d'imagerie dus aux interférences des ondes.
