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Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Explore les techniques d'imagerie sans lentille, l'imagerie diffuse par rayons X cohérente, l'extraction de phase et les applications dans la diffusion des rayons X en petit angle.
Couvre l'analyse de modèles de diffraction de surface sélectionnés pour identifier les structures cristallines et calculer les paramètres de la cellule unitaire.
Explore la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les observations en champ proche et lointain, la mise au point des lentilles et la diffraction des rayons X par les cristaux.
Explore Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) pour des informations détaillées sur la structure cristalline et la mesure de l'épaisseur de l'échantillon.
Explore les jauges de silicium pour les capteurs piézorésistifs, couvrant les diodes pn, les effets de direction cristalline, la compensation de dérive thermique, l'intégration du capteur de pression et les systèmes de surveillance de la pression des pneus.
