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Explore l'interférence électronique, la dualité onde-particule, l'effet Compton, l'hypothèse de Broglie et l'aspect philosophique des théories scientifiques.
Explore les techniques de microscopie électronique pour la caractérisation morphologique des polymères, couvrant les sources de contraste, les dommages causés par le faisceau et les stratégies pour éviter les dommages.
Explore les appareils d'imagerie à rayons X et gamma, les détecteurs de semi-conducteurs et les applications de transport de charge dans les détecteurs.
Explore les techniques de préparation d'échantillons pour la TEM, telles que la méthode du coin clivé et l'ultramicrotomie, en soulignant leur importance dans l'obtention d'échantillons de haute qualité.
Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
