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Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.
Explore la symétrie dans la science des matériaux, couvrant les éléments cristallins, les groupes de symétrie, les classes cristallines et le système de treillis Bravais.
Couvre la méthode Rietveld pour l'analyse de phase et le raffinement de la structure, y compris des critères pour un bon ajustement et des exemples d'ajustement simples.
Explore les techniques d'imagerie sans lentille, l'imagerie diffuse par rayons X cohérente, l'extraction de phase et les applications dans la diffusion des rayons X en petit angle.
Explore la liaison chimique dans les solides, la structure de la bande et les techniques de diffusion de surface pour les mesures des paramètres du réseau et l'analyse de l'orientation des cristaux.
Explore les phénomènes de diffusion de surface, la longueur d'onde électronique, les interférences constructives, les particules organo-métalliques et le rayonnement synchrotron dans les nanosciences.
Explore les composants et le fonctionnement d'un microscope électronique à transmission (TEM), y compris les systèmes de vide, les sources d'électrons, les lentilles, les aberrations et les détecteurs.
