Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris la configuration, les signaux et les défis tels que les dommages causés par le faisceau et la charge.
Explore les principes EDS et ESEM, la détection des rayons X, l'efficacité de l'ionisation, la loi de Moseley et les environnements d'échantillons ESEM.
Explore les composants et le fonctionnement de la microscopie électronique de transmission, couvrant les systèmes de vide, l'émission d'électrons, les aberrations de lentilles et les types de détecteurs.
Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Explore le fonctionnement et l'analyse d'un microscope électronique à balayage, couvrant les contrôles SEM, les détecteurs, l'acquisition d'images, l'analyse des spectres et l'utilisation de logiciels.
Couvre les bases de la microscopie électronique à transmission, y compris les composants, le fonctionnement, les modes d'imagerie, l'analyse de diffraction et l'interaction des électrons de haute énergie avec la matière.
Introduit la microscopie électronique, couvrant l'organisation pratique, la préparation d'échantillon, l'interaction rayonnement-matière, et les mécanismes de détecteur.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
