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Explore les transistors à couches minces organiques, couvrant les caractéristiques, la mobilité, l'impact du stress, le transport ambipolaire et les défis de conception.
Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Explore les effets de la non-linéarité dans les transistors MOS RF, couvrant l'entrée bicolore, l'intermodulation et le point d'interception du troisième ordre.
Couvre l'intégration de processus dans la fabrication de semi-conducteurs, y compris le processus à double puits, les méthodes d'isolation, l'ajustement de la tension de seuil et la formation de siliciure.
Explore le retard de l'onduleur, le dimensionnement, les capacités parasites et l'impact de l'appareil sur l'optimisation du retard dans les circuits numériques.
Explore la détection d'amplification d'ADN en temps réel à l'aide d'un transistor à semi-conducteur et discute des stratégies de compensation pour les réseaux de capteurs.
