Microscopie électronique : bases et techniques

Cette séance de cours couvre les composantes fondamentales des microscopes électroniques, y compris les sources d'électrons, les lentilles et les détecteurs. Il explique les interactions des électrons avec les échantillons, les principes de travail de SEM, TEM et FIB, et les facteurs influençant la résolution. On discute des avantages de chaque technique, des exigences relatives aux échantillons et des méthodes de préparation. Les modes d'imagerie tels que SE, BS et EDX dans SEM sont expliqués, ainsi que les méthodes de nanofabrication utilisant SEM/FIB. La séance se penche également sur la corrélation entre AFM et SEM et met en valeur des applications comme la tomographie de rigidité et l'imagerie 3D.

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Séances de cours associées (103)

Concepts associés (36)

MICRO-428: Metrology

The course deals with the concept of measuring in different domains, particularly in the electrical, optical, and microscale domains. The course will end with a perspective on quantum measurements, wh

Corrélation (statistiques)

En probabilités et en statistique, la corrélation entre plusieurs variables aléatoires ou statistiques est une notion de liaison qui contredit leur indépendance. Cette corrélation est très souvent réduite à la corrélation linéaire entre variables quantitatives, c’est-à-dire l’ajustement d’une variable par rapport à l’autre par une relation affine obtenue par régression linéaire. Pour cela, on calcule un coefficient de corrélation linéaire, quotient de leur covariance par le produit de leurs écarts types.

Microscope électronique

thumb|Microscope électronique construit par Ernst Ruska en 1933.thumb|Collection de microscopes électroniques anciens (National Museum of Health & Medicine). Un microscope électronique (ME) est un type de microscope qui utilise un faisceau d'électrons pour illuminer un échantillon et en créer une très agrandie. Il est inventé en 1931 par des ingénieurs allemands. Les microscopes électroniques ont un pouvoir de résolution supérieur aux microscopes optiques qui utilisent des rayonnements électromagnétiques visibles.

Pearson correlation coefficient

In statistics, the Pearson correlation coefficient (PCC) is a correlation coefficient that measures linear correlation between two sets of data. It is the ratio between the covariance of two variables and the product of their standard deviations; thus, it is essentially a normalized measurement of the covariance, such that the result always has a value between −1 and 1. As with covariance itself, the measure can only reflect a linear correlation of variables, and ignores many other types of relationships or correlations.

Intraclass correlation

In statistics, the intraclass correlation, or the intraclass correlation coefficient (ICC), is a descriptive statistic that can be used when quantitative measurements are made on units that are organized into groups. It describes how strongly units in the same group resemble each other. While it is viewed as a type of correlation, unlike most other correlation measures, it operates on data structured as groups rather than data structured as paired observations.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

Opération avancée TEM

Couvre les techniques d'exploitation avancées pour un Microscope Electronique de Transmission (TEM), y compris la mise en place de l'ensemble de travail et le réglage fin de l'image.

Composants de microscopie électronique MSE-352: Introduction to microscopy + Laboratory work

Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.

Microscopie électronique de balayage : Fondamentaux et applications CH-633: Advanced Solid State and Surface Characterization

Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.

Interactions faisceau-matière CH-410: Physical and chemical analyses of materials

Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.

SEM Basics: Introduction à la microscopie électronique MSE-636: Organic semiconductors

Introduit les bases de la microscopie électronique à balayage, couvrant les sources d'électrons, les lentilles, le système de vide et les détecteurs.