Microscopie électronique à balayage : notions de base

Cette séance de cours présente les bases de la microscopie électronique à balayage (SEM), couvrant le principe de fonctionnement de l'instrument, les avantages des électrons rapides par rapport à la lumière visible et la génération d'images SEM. Il explique les signaux produits par SEM, l'impact de l'énergie du faisceau sur la profondeur de pénétration, et les défis tels que les dommages du faisceau, la contamination et la charge. La séance de cours traite également de l'importance de la position du détecteur, des effets de bord et du rôle des différents détecteurs dans la formation d'images. Divers exemples et aides visuelles sont utilisés pour illustrer les concepts clés.