Déformation des solides | EPFL Graph Search

Microscopie par sonde de balayage : bases et applications

Explore les fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, les types de pointes et les modes AFM pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.

Microscopie de la Force Atomique: Métrologie à l'échelle nanométrique

Explore la microscopie de la Force atomique, qui couvre les principes, les applications, la résolution, les mécanismes de rétroaction et les techniques d'imagerie.

Propriétés nanométriques : Effets de surface et phénoménène quantique

Déplacez-vous dans des propriétés nanométriques, mettant l'accent sur les effets de surface et les phénomènes quantiques, explorant des propriétés électroniques, mécaniques, magnétiques, photoniques et chimiques uniques à l'échelle nanométrique.

Caractérisation de surface : aspects physiques

Explore la morphologie de la surface, la topographie et la surface spécifique en utilisant des techniques avancées de caractérisation des matériaux.

Microscopie de sonde de balayage

Couvre les principes et les applications de la microscopie par sonde à balayage, y compris les principes de fonctionnement, les différents systèmes et les applications d'imagerie.