Microscopie à sonde à balayage: bases

Cette séance de cours couvre les bases de la microscopie à sonde à balayage (SPM), en se concentrant sur la microscopie à effet tunnel (STM) et la microscopie à force atomique (AFM). La STM fournit une analyse structurelle et électronique des matériaux conducteurs, tandis que l'AFM mesure les forces sur les surfaces sans avoir besoin de conductivité. La séance de cours explique les principes, l'instrumentation, les techniques d'imagerie et les méthodes de spectroscopie de SPM, en soulignant les capacités de résolution et les différents modes de fonctionnement de l'AFM. Il traite également des applications de la SPM dans l'analyse de surface, y compris la spectroscopie par effet tunnel et la gravure STM. La présentation se termine par une explication détaillée des modes d'imagerie AFM, tels que les modes contact, sans contact et taraudage.