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Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.
Explore la diffusion dynamique dans la diffraction électronique, discutant de la diffusion interdépendante et de l'interprétation difficile des faisceaux diffractés.
Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Couvre la méthode Rietveld pour l'analyse de phase et le raffinement de la structure, y compris des critères pour un bon ajustement et des exemples d'ajustement simples.
