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Couvre la détermination et l'analyse des structures cristallines à l'aide de techniques telles que la diffraction des rayons X et la microscopie électronique.
Explore la symétrie dans la science des matériaux, couvrant les éléments cristallins, les groupes de symétrie, les classes cristallines et le système de treillis Bravais.
Explique la loi de Bragg dans Transmission Electron Microscopie, en se concentrant sur la relation entre la longueur d'onde, l'espacement du réseau cristallin et l'angle de diffraction.
Couvre les bases du réseau réciproque dans la diffraction des électrons, y compris la géométrie du vecteur de diffraction et les propriétés des vecteurs cellulaires de l'unité de réseau réciproque.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
