Séance de cours

Microscope à force atomique: Imagerie et modes

Description

Cette séance de cours couvre le fonctionnement du microscope à force atomique (AFM) pour l'imagerie des surfaces isolantes à l'échelle atomique, expliquant les interactions de force entre le porte-à-faux et l'échantillon dans les modes de contact et sans contact. Il traite également de la détection optique de la déviation en porte-à-faux et des différences entre l'AFM et le microscope à force magnétique (MFM) dans les domaines magnétisés par imagerie.

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Source officielle

https://mediaspace.epfl.ch/media/0_tbcmul8p

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