Cette séance de cours traite des concepts de floraison et d'anti-floraison dans les dispositifs à couplage de charge (CCD). Il commence par expliquer le problème du débordement de lumière dans les cellules CCD, où l'excès de lumière peut faire qu'une cellule dépasse sa capacité, ce qui entraîne des effets indésirables dans la capture d'images. L'instructeur introduit l'idée d'un drain de débordement pour gérer cet excès de lumière, détaillant comment une porte peut être conçue pour contrôler le flux d'électrons excédentaires afin de les empêcher d'affecter les cellules voisines. La séance de cours développe davantage sur la structure d'un CCD enterré avec des caractéristiques anti-éblouissement verticales, soulignant l'importance de la conception du substrat dans la collecte des photoélectrons en excès. L'instructeur décrit la structure CCD de Bawid, en soulignant son profil anti-éblouissement et le processus d'interdiffusion lors de la fabrication qui crée une région P faiblement dopée. La séance de cours se termine par un résumé du principe de fonctionnement de ces conceptions, illustrant comment elles empêchent efficacement la floraison en dirigeant les électrons excédentaires vers le substrat au lieu des pixels adjacents.