Microscopie électronique à transmission : histoire et correction de l'aberration

Cette séance de cours couvre l'histoire de la microscopie électronique à transmission (TEM) depuis son invention en 1931 par Ernst Ruska et Max Knoll jusqu'au développement de techniques de correction des aberrations. Il traite des limites des lentilles électroniques, telles que les aberrations sphériques et chromatiques, et des efforts pour corriger ces aberrations au fil des ans. La présentation se penche également sur le succès obtenu en 1997 avec la correction Cs, conduisant à des progrès significatifs dans la technologie TEM. En outre, il explore les différents types de contrastes en imagerie TEM, y compris le contraste d’épaisseur de masse, le contraste de diffraction, le contraste de phase pour les échantillons cristallins et la microscopie électronique analytique pour le contraste chimique.