Explore les techniques avancées en microscopie électronique de transmission, en se concentrant sur l'imagerie de contraste de phase et les réglages de la caméra.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Explore les principes fondamentaux et les applications de la microscopie électronique à transmission haute résolution, en se concentrant sur la formation d'images, la fonction de transfert de contraste et les corrections du système optique.
Explore les composants et le fonctionnement de la microscopie électronique de transmission, couvrant les systèmes de vide, l'émission d'électrons, les aberrations de lentilles et les types de détecteurs.
Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
Explore la lithographie par faisceau d'électrons, couvrant la luminosité du canon à électrons, les aberrations de la lentille, le diamètre du faisceau et la mise en œuvre de l'outil.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
Explore les techniques de fonctionnement et d'imagerie de la microscopie électronique à transmission (TEM), y compris la configuration du mode de service et l'utilisation de la micrographie numérique.
