Mécanismes de défaillance MEMS

Dans cours

Veniam ipsum aliquip anim aliquip ex sit mollit elit. Irure magna mollit velit fugiat veniam in ea aute velit est do labore. Incididunt officia ullamco culpa sint sint commodo nulla.

Connectez-vous pour voir cette section

Description

Cette séance de cours couvre les mécanismes de défaillance dans les dispositifs MEMS, y compris le fluage, la fatigue et les modes de défaillance électrique tels que la charge diélectrique, la panne, l'ESD et l'électromigration. Il discute de la façon dont les matériaux comme le silicium et les métaux se comportent dans différentes conditions de stress et des stratégies pour atténuer ces mécanismes de défaillance.

Connectez-vous pour regarder la vidéo

Enseignants (2)

Amet sunt commodo magna nisi nulla magna dolor reprehenderit. Exercitation incididunt qui commodo velit nostrud ut eiusmod pariatur aliqua id ut excepteur non dolore. Voluptate occaecat non qui Lorem do laborum laboris minim.

Aute dolor id dolore aliquip officia qui exercitation. Deserunt exercitation reprehenderit adipisicing sit eu sint fugiat aliqua cillum enim dolor dolor incididunt. Cupidatat incididunt amet excepteur magna aliquip velit. Labore qui adipisicing magna sunt adipisicing ad magna dolor nisi. Irure non consectetur ullamco qui labore eiusmod ut nostrud eu commodo anim nisi esse eiusmod.

Source officielle

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.