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Cette séance de cours couvre l'application des circuits CMOS pour la détection de l'ADN, en se concentrant sur les méthodes de mesure de capacité à base de charge. Les sujets abordés comprennent l'utilisation des architectures CMOS pour VLSI, les interfaces électrochimiques, la détection de l'ADN de la capacité et la mesure de la fréquence à la capacité. L'instructeur discute des défis de la détection d'ADN en mode CBCM, de la mise en œuvre VLSI de la puce et de l'impact des signaux qui se chevauchent. En outre, la séance de cours explore le concept de mesure de la fréquence à la capacité, les méthodes ampérométriques pour la détection de l'ADN et les propriétés des sondes en mode FTCM. La présentation se termine par un aperçu de la série Taylor, de la voltammétrie cyclique et de la conception des circuits de lecture CMOS actuels.